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    第四届IC测试研讨会详细内容

    时间:2014-09-22 20:21来源:www.www.larfn.com 作者:ictest8 点击:
     2014年9月13日,在大家的期待中,我们的第四届IC测试研讨会如期举行,我们为大家准备了3个经典主题,分别如下:

    主题一:《CP测试Trim Fuse原理及技巧

    演讲嘉宾:业界资深测试工程师---jerry 高

    1. fuse的分类及特点
    2. trim fuse的原理及技巧
    3. CP trim的常见问题及解决办法
    4. ……

    详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播


    主题二:《CP测试数据的分析和应用
     
    演讲嘉宾:SOC测试开发资深人士 James 关

    1. CP测试结果的优缺点
    2. CP测试数据的确认内容。
    3. CP测试数据的分析手段。
    4. CP数据分析案例
    详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播

     主题三:《Testing for NPI

    演讲嘉宾:业界资深产品经理---高琦

           一颗全新的IC面世,将会经历各个阶段:before tape out,validation,qualification,characterization,production等等,在这些阶段里,我们测试工程 师需要怎么介入,怎么配合相关的工程师,又需要提前做哪些工作,才能保证产品的顺利产出……

    详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播


     
    奖品设置
     
    阳光普照奖:高品质衬衫+中秋月饼
            
     
    幸运奖10名:多功能运动手表一款


     
    三等奖8名:蓝牙音箱一个


     
    二等奖4名:小米盒子一个
       

     
    一等奖2名:丹麦陨石高品质音响一


     
    特等奖1名:64G 小米平板一个
        


        下次研讨会将于2015年3月或4月的一个周末举行,欢迎关注,期待您的光临~~
    我们的微信公众号,欢迎关注,可以更方便的看到我们发布的信息:



     
     
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