<menu id="iquis"><strong id="iquis"></strong></menu>
<nav id="iquis"><nav id="iquis"></nav></nav>
  • <nav id="iquis"></nav>
  • ?
    欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

    专业IC测试网

    第八届IC测试技术研讨会火热报名中

    时间:2016-10-18 11:24来源:www.www.larfn.com 作者:ictest8 点击:

    第八届IC测试研讨会
    时间:2016年11月19日(周六) 13:30-17:30
    地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站)

          
            会议背景:近几年,国家在集成电路(IC)产业已陆续投入了上千亿的扶持资金,IC产业已成为国家最为重视的产业,未来几年将是国内IC产业的高速发展阶段,而高速发展阶段的产品质量至关重要,IC测试作为把控产品质量的最关键环节,已逐渐占居了产业中最重要的地位,IC测试技术也将不断的突破,不断的更新换代,如何在不增加成本,甚至降低成本的情况下完成测试,并保证产品质量,测试工程师的重要职责以及封测厂未来的发展机遇都是非常值得探讨的话题,本期我们将邀请业界资深人士为大家现场布道说法,相信能够给大家带来意想不到的收获。


    本期研讨会简要议程如下,具体可能会有调整:

    时 间
    报告主题
    演讲人
    13:30-14:00
    签到
    -
    14:00-14:10
    开场致辞
    -
    14:10-14:50
    《Test Hardware for Similar Package ICs》
            作为测试工程师的兄弟姐妹们都知道,针对一颗芯片开发一套全新的测试硬件需要大量的时间,精力和成本,在目前各IC设计公司的产品迭代速度相当快的情况下,我们有必要找到一个比较巧妙的方法,来节省一些时间和成本,让产品能够尽快推出。本期我们有幸邀请到TI的资深工程师,她将以实际案例为基础,来分享她多年积累的经验,针对同一系列芯片,我们该如何复用测试方案,如何缩短测试开发周期,以及如何降低可能的风险……非常值得期待!
    TI资深测试工程师
    --- Hu yue
    15:00-15:50
    《DFT基础知识及流程介绍》
          为何有些芯片设计出来却无法测试,为何有些芯片的测试时间需要特别长,而同类其他家的芯片却只需要很短的时间就可以完成测试,这些都是DTF的功劳,那么高深莫测的DFT技术到底是个什么鬼,一起来听听大牛深入浅出的讲解吧,特邀Intel资深DFT工程师Kevin He来分享一下他多年的经验,赶紧来参加吧……
    1、manufacturing defect
    2、manufacturing testing
    3、what is DFT and why DFT
    4、describe different DFT techniques
    5、DFT flow introduce
     

    GlobaFoundry DFT技术专家
    ---Fred Lv

    16:00-16:50

    《国内封测业发展趋势和机会》

          未来五年,可能是中国大陆集成电路行业发展的最好的窗口期,而集成电路封装测试在各个领域中更是大家关注的热点之一。所以很有必要和大家聊聊接下来的几年里,大陆封测行业的发展方向和机会,本次我们邀请了封测界资深大牛--James关,来为我们分享一下他对封测行业的发展趋势及将来机会的看法,机会不容错过,一起来感受一下……

    1)封装测试行业发展规模和潜力的估算
    2)封测行业各个细分领域的热点和投资机会
    3)作为从业人员如何把握机会
    封测界大牛 ---James 关
        
    17:00-17:30
    自由交流、合影留念
    -

                  除了技术大餐外,这次的赞助商也相当给力,为大家准备了非常丰富的礼品, 暂定的爱心赞助商如下,为他们的爱心点赞,同时也希望工程师们多支持一下他们,没有他们的赞助,我们的活动也就无法如此成功的举办,也就无法为大家提供如此丰富,精美的礼品。

          

    本次礼品也是史无前例的丰富,具体是啥小编还没探到,这次礼品异常保密,预计只有到了现场才能得知……:)

            本次活动仍以公益为主,场地费、茶点费大家均摊,费用¥50每人,上届参加的同学本届可以免费。特别说明:由于本活动是以技术交流为主,故如有销售人员需要参加,费用为¥100每人,敬请理解~~


            为保证研讨质量,本次研讨会限额150人,报名截止日期11月15日,先报先得,大家抓紧,未提前报名可是没有奖品哦……   报名的抓紧哦,根据之前的效果,晚了可就没名额了……!

          报名请将姓名,性别,职务,电话,公司,公司地址,QQ,Email等信息发送至:邮箱:794277694@qq.com
    也可通过Q Q:794277694报名 (添加请注明IC测试研讨会)


           作为经常出差的测试工程师们,我们很少有时间集聚在一起探讨测试技术,交流、分享经验,那么我们测试工程师专属的测试研讨会,将是一个很不错的学习交流机会和经验分享平台,我们建议埋头苦干的你,利用周末的时间来跟业界资深大牛多交流,多沟通,让我们的思路更开阔,让我们的技术更全面,更扎实。同时我们更希望有丰富经验的你,能够参与分享你的宝贵经验,让刚跨入IC测试行业的兄弟们少走些弯路,成长更快些,助人者天助,为别人点一盏灯,自己的路会更宽……。

    如下为前几届的活动详情,可以先感受一下:

    1、第七届IC测试研讨会详情    第七届现场报道
    2、第六届IC测试研讨会详情    第六届现场报道
    3、第五届IC测试研讨会详情    第五届现场报道
    4、第四届IC测试研讨会详情    第四届现场报道
    5、第三届IC测试研讨会详情    第三届现场报道
    6、第二届IC测试研讨会详情    第二届现场报道
    7、第一届IC测试研讨会详情    第一届现场报道


    IC测试QQ群及维修公众号二维码:

     

    www.larfn.com 活动小组

    2016.10.18

    顶一下
    (5)
    100%
    踩一下
    (0)
    0%
    ------分隔线----------------------------
    发表评论
    请自觉遵守互联网相关的政策法规,严禁发布色情、暴力、反动的言论。
    评价:
    用户名: 验证码: 点击我更换图片
    ?
    一分快3app