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    第十届IC测试研讨会火热报名中

    时间:2017-11-08 16:42来源:www.www.larfn.com 作者:ictest8 点击:

    第十届IC测试研讨会
    时间:2017年12月9日(周六) 13:30-17:30
    地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站5号口出)

          
            会议背景:近年来,国内IC产业发展迅猛,国家在集成电路(IC)产业已陆续投入了上千亿的扶持资金,IC产业已成为国家最为重视的产业,未来几年将是国内IC产业的高速发展阶段,目前国内封测产业的发展已经令国外友商刮目相看,如长电科技,从一个无名小厂已经跃居为全球第三。但高速发展时产品质量至关重要,IC测试作为把控产品质量的最关键环节,已逐渐占居了产业中最重要的地位,如何通过创新的测试技术来提高产品质量,将是产业关注的重点。本次研讨会我们邀请了业界资深人士,围绕着产品质量的把控,分别针对RF测试,封装环节,可靠性测试进行深入探讨,相信这又是一次极难得的技术探讨及提高的机会,各位业界同仁千万别错过!


    本期研讨会简要议程如下,具体可能会有调整:

    时 间
    报告主题
    演讲人
    13:30-14:00
    签到
    -
    14:00-14:10
    开场致辞
    -
    14:10-14:50
              《ATE射频测试探讨----射频芯片通用测试项目,应用实现及其目的探讨》
           射频芯片应用广泛,有功能单一的手机PA(放大器)芯片,LNA低噪放, 也有应用于不同通信协议的transceiver(收发??椋?, 集成度更高的RF SOC 芯片已经成为移动终端产品的主流应用芯片。
            ATE测试方案以及各家芯片设计公司的应用评估都需要完整的测试射频芯片各??榈墓δ?,以保证整体性能满足设计要求,并有足够余量保证量产的yield。针对射频应用中的各??樾阅?,了解其定义以及背后关联的性能指标,对于ATE测试人员以及芯片设计的QA工程师,产品工程师都有必要性。今天我们特邀ADVANTEST资深测试工程师Kevin.Yan,在通用层面探讨射频芯片测试。精彩分享,不容错过!
    ADVANTEST资深测试工程师---Kevin.Yan
    15:00-15:50
    《IC封装工艺之Die Attach技术探讨》
          芯片质量三道关:设计,制造和封装,每一关都对芯片质量产生重大影响,封装作为最后一道关,此关不过,前功尽弃!本次我们特邀汉高中国(Henkel)资深技术服务经理Tommy Zhang,为大家分享Henkel在封装质量控制上丰富经验,重点讲解Die Attach相关技术,以及对芯片质量的影响?;崮训?,值得期待!

    Henkel中国资深技术服务经理 ---Tommy Zhang

    16:00-16:50

    《汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101》

          近几年新能源汽车的发展异常迅速,随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮,但汽车电子对IC质量的要求非??量?,基本以国外芯片供应商为主,国产芯片能进入汽车领域的不多,那么通过怎样的测试才能满足汽车电子的应用需求,本次我们特邀原高通工程总监---Hanson Zheng来跟大家分享汽车电子的可靠性测试认证,通过对AEC-Q规范的分析整理,重点介绍AEC―Q100对IC集成电路、以及AEC-Q101对分立器件的相关认证流程和认证项目介绍,车用IC特性分析和良率分析。相信对有计划进入汽车领域的芯片公司有相当大的帮助!

    原高通工程总监 ---Hanson Zheng
        
    17:00-17:30
    自由交流、合影留念
    -

           本次研讨会的赞助商也是非常有爱心,为大家准备了异常丰富的礼品(华为Mate9 Pro,平衡车,小米AI,加湿器,充电宝样样俱全……,赶紧呼朋唤友来参加), 暂定的赞助商如下,同仁们多支持。



           本次活动仍以公益为主,场地费、茶点费均摊,费用¥50/人,上届参加的同学本届可以免费。特别说明:由于本活动是以技术交流为主,故销售人员需要参加,费用为¥100每人,敬请理解~~


            为保证研讨质量,本次研讨会限额130人,报名截止日期12月2日,先报先得,大家抓紧……  

          报名请将姓名,性别,职务,电话,公司,公司地址,QQ,Email等信息发送至:邮箱:794277694@qq.com
    也可通过Q Q:794277694或微信:13816654535 报名 (添加请注明IC测试研讨会)


           读万卷书,不如行万里路,行万里路不如交友无数,此之谓:独学而无友,则孤陋而寡闻。交友无数不如与业界专家常聚,此之谓:听君一席话,胜读十年书!在这知识爆炸的年代,经常埋头苦干的同仁们,太需要出来跟业界技术大牛们交流交流了,来吧来吧,一起分享这份技术大餐,第十届IC测试研讨会绝不让你虚行!

    如下为前几届的活动详情,可以先感受一下:

    1、第九届IC测试研讨会详情    第九届现场报道
    2、第八届IC测试研讨会详情    第八届现场报道
    3、第七届IC测试研讨会详情    第七届现场报道
    4、第六届IC测试研讨会详情    第六届现场报道
    5、第五届IC测试研讨会详情    第五届现场报道
    6、第四届IC测试研讨会详情    第四届现场报道
    7、第三届IC测试研讨会详情    第三届现场报道
    8、第二届IC测试研讨会详情    第二届现场报道
    9、第一届IC测试研讨会详情    第一届现场报道


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    www.larfn.com 活动小组

    2017.11.08

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