1. 运算放大器测试方法基本原理

采用由辅助放大器（A）与被测器件（DUT）构成闭合环路的方法进行测试，基本测试原理图如图1所示。

图 1

辅助放大器应满足下列要求：

(1) 开环增益大于60dB；

(2) 输入失调电流和输入偏置电流应很??；

(3) 动态范围足够大。

环路元件满足下列要求：

(1) 满足下列表达式

Ri·Ib＜Vos

R＜Rid

R·Ib ＞Vos

Ros＜Rf＜Rid

R1＝R2

R1＞RL

式中：Ib： 被测器件的输入偏置电流；

Vos：被测器件的输入失调电压；

Rid：被测器件的开环差模输入电阻；

Ros：辅助放大器的开环输出电阻；

(2) Rf/ Ri值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作。

2.运算放大器测试适配器

SP-3160Ⅲ 数/?；旌霞傻缏凡馐韵低程峁┑脑怂惴糯笃鞑馐允逝淦鞅闶歉萆鲜龌驹砩杓贫?。它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成，可以完成通用单运放、双运放、四运放及电压比较器的测试。运算放大器适配器原理图如附图所示。

3．测试参数

以OP-77G为例，通用运算放大器主要技术规范见下表。

3.1参数名称：输入失调电压 Vos (Input Offset Voltage)。

3.1.1参数定义：使输出电压为零（或规定值）时，两输入端间所加的直流补偿

电压。

3.1.2测试方法: 测试原理如图2 所示。

图2

(1) 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；

(2) 电源端施加规定的电压；

(3) 开关“K4”置地（或规定的参考电压）；

(4) 在辅助放大器A的输出端测得电压Vlo；

(5) 计算公式：

Vos=(Ri/(Ri+Rf))*VLo。

3.1.3编程举例：（测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160）

----测试名称:vos----

测量方式:Vos

Bias 1=-15.000 V

Clamp1=-10.000mA

Bias 2=15.000 V

Clamp2=10.000mA

测量高限=0.0001V

测量低限=____V

测量延迟:50mS

箝位延迟:50mS

SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]

电压基准源2电压=0V

电压基准源2量程+/-2.5V

电压基准源3电压=0V

电压基准源3量程+/-2.5V

测试通道 TP1

测量单元 DCV

DCV量程 :+/-2V

3.2参数名称：输入失调电流 Ios (Input Offset Current)。

3.2.1参数定义：使输出电压为零（或规定值）时，流入两输入端的电流之差。

3.2.2测试方法：测试原理如图3 所示。

图3

(1)在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；

(2) 电源端施加规定的电压；

(3) 开关K4置“地”（或规定的参考电压）；

(4) 开关K1、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL0；

(5) 开关K1、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL1；

(6) 计算公式：

Ios=(Ri/(Ri+Rf))*((VL1-VL0)/R) 。