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    热烈祝贺IC专题培训圆满成功

    时间:2017-09-29 17:29来源:www.www.larfn.com 作者:ictest8 点击:
            2017年 9月23、24两天的周末,在轻松愉快的气氛中,我们的首期IC专题培训圆满结束,完美谢幕。培训内容异常丰富:从IC设计流程,FAB制造工艺,低良率分析,优化方法及经验,可靠性测试等等一应俱全,本以为干货太多,大家难以消化,没想到功力深厚的王大讲师不仅培训资料准备的异常充分,各种图片,视频,案例、道具所有能够易于理解的方式方法全部搬上讲台,再加上他深入浅出的讲解,瞬间让晦涩难懂的技术变的轻松掌握??渭渫墙涣髌栈钤?,从各个技术环节展开讨论,工作中遇到的各种技术难题也抛了出来,在交流碰撞中难题不攻自破,好一个别开生面的IC专题培训!同学们纷纷表示这种培训真是太好了,太及时了!受益匪浅,收获巨大,绝对值得参加,话不多说,让我们一起感受一下现场的热烈气氛吧。
           首先开讲的是IC设计流程,从培训中可以清楚的知道,IC设计流程中的每个关键时间节点,以及这些节点需要做的最重要的事情,这样对整个项目的把控力度更大,避免出现可能的错误,确保项目成功导入量产。

           同学们也非常认真、投入。

           课中,小黑板用处相当大,随时画图更易理解:

           同学们这认真劲也没谁了~~

           第二课讲FAB工艺,工艺虽然枯燥,但在王老师的讲解下还是挺有意思的

           不好理解就用小黑板,效果杠杠滴

            接下来就是低良率分析和可靠性测试,这两节课案例众多,这些案例都是以前花了大量的人力、物力积累的最宝贵,也是最昂贵的经验,王老师全盘托出,同学们感动至极啊

            培训后同学们的反馈让我们甚感欣慰,组织一场培训虽然辛苦,但看到同学们巨大的收获,再累也值了

    培训结束后的合影少不了

            两天的培训老师同学们都很辛苦,小小的腐败一下也是允许滴,知识提高了,体重嘛,嘿嘿,再说吧~~~

            IC专题培训已经有了第一次,估计难免会有第二次,第三次…………大家一起期待吧……

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