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    当前位置: 网站主页 > 测试理论 >
    • [测试理论] RF 芯片测试的一些简单知识 日期:2022-05-04 11:15:18 点击:134 好评:2

      PA 是进入射频测试的基础,也是比较经典的产品,市场空间比较大。楼主刚涉足这个领域,所以最近一段时间一直在研究PA类型的产品测试。 射频领域的书籍很多,但是射频芯片测试书...

    • [测试理论] 详解IGBT原理,参数及应用技术 日期:2022-05-04 09:07:48 点击:129 好评:2

      前言 01 大家好,本文 主要介绍了大功率IGBT??橛τ弥械囊恍┘际?,包括参数解读、器件选型、驱动技术、?;し椒ㄒ约笆Х治龅?,内容相对浅显易懂,比较适合初学者! 图片来源于...

    • [测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期:2022-04-25 09:42:52 点击:186 好评:12

      做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%【对于先进工艺,流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...

    • [测试理论] 详解 DFT 之 IBIST 日期:2022-04-22 15:04:40 点击:138 好评:2

      LBIST 是一种内置自测 (BIST) 形式,其中芯片内部的逻辑可以在芯片本身上进行测试,而无需任何昂贵的自动测试设备 (ATE)。BIST 引擎内置于芯片内部,只需要像测试访问端口 (TAP) 这样的访...

    • [测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期:2022-04-22 14:52:38 点击:148 好评:0

      什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术,其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器,如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...

    • [测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期:2022-04-22 14:38:17 点击:135 好评:2

      dft 是什么 可测试性设计(Design for Testability)是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法,以便生产完成后进行测试,确保检测过后的电子组件没有功能...

    • [测试理论] 浅谈DFT之MBIST 日期:2022-04-22 14:17:48 点击:127 好评:0

      什么是mbist MBIST 方法是目前大容量存储器测试的主流技术,该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试,能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式??榻腥娴?..

    • [测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期:2022-04-22 13:37:26 点击:142 好评:6

      Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试,在最坏的情况下,我们可能需要 2n 个(其中 n 代表input的数量)分配来找到single stuck-at fault的...

    • [测试理论] ADC基础及测试详解 日期:2022-04-21 18:03:58 点击:189 好评:2

      本文的目的是介绍高速ADC相关的理论和知识,详细介绍了采样理论、数据手册指标、ADC选型准则和评估方法、时钟抖动和其它一些通用的系统级考虑。另外,一些用户希望通过交织、平...

    • [测试理论] 芯片测试科普 日期:2022-04-21 17:33:38 点击:367 好评:8

      作为一个芯片设计公司(fabless),我们也非常关注集成电路产业链的各个环节,以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...

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